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INVESTIGATION OF SHALLOW BURIED INTERFACES BYPHOTOELECTRON SPECTROSCOPY

机译：浅埋管界面的光电子能谱研究

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来源
《32nd annual meeting of the Adhesion Society, Inc.》|2009年|369-371|共3页
会议地点 Savannah GA(US)
作者
Peter M.A. Sherwood;
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作者单位

Department of PhysicsrnOklahoma State UniversityrnStillwater, OK 74078-3072, U.S.A.rnpeter.sherwood@okstate.edu;

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类
关键词
入库时间 2022-08-26 14:25:34

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