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Surface-related Characterisation in Contact-probe Metrology

机译:接触探针计量学中与表面相关的表征

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摘要

The design and evaluation is described of a special test-rig for evaluating the uncertainties of location between the probe tip of an industrial gauge and typical target surfaces. The system will resolve variations to better than 10 nm over a range of forces. There are indications that uncertainties from contact may be significant contributors to error budgets, even when using clean surfaces.
机译:描述和描述了一种特殊的测试装置,用于评估工业仪表的探针尖端与典型目标表面之间位置的不确定性。该系统将在一定作用力范围内将变化解析为优于10 nm。有迹象表明,即使使用干净的表面,接触的不确定性也可能是错误预算的重要因素。

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