Department of Materials Science and Engineering, Microelectronic Packaging Materials Laboratory, Lehigh University, Bethlehem, PA 18015;
机译:倒装芯片封装中3D焊料凸点的界面分层和疲劳寿命估计
机译:两个测试样品,用于确定倒装芯片组件的界面断裂韧性
机译:双材料组件承受热应力:使用界面顺应性模型评估分层倾向
机译:启动与倒装芯片组件相关的界面分层
机译:无铅倒装芯片BGA封装的界面可靠性
机译:官能化石墨烯纳米孔对不同加载率下3D纤维 - 金属层压材料分层屈曲和分层传播电阻的影响
机译:集成薄膜结构中界面分层的初始化和传播
机译:倒装芯片组装和底部填充应力;用aTC4.1装配测试芯片测量并用有限元法分析