首页> 外文会议>2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits >Can We Use EDS to Determine Fluorine Contamination Level on A Normal Al Bondpad?
【24h】

Can We Use EDS to Determine Fluorine Contamination Level on A Normal Al Bondpad?

机译:我们可以使用EDS确定普通Al键合板上的氟污染水平吗?

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摘要

IN this paper, the differences between EDS and AES are discussed. One can full understand what limitation of EDS technique is and why AES is better tool to determine F contamination on a normal Al bondpad. During application we cannot directly compare EDS result to AES result as EDS is a bulk analysis technique, while AES is surface analysis technique. For surface contamination analysis, a practice rule should be followed: “EDS clean is not clean” and “Auger clean is clean”. It is fully recommended for us to use AES to analyse and monitor surface F contamination level on a normal Al bondpad.
机译:本文讨论了EDS和AES之间的区别。人们可以完全理解EDS技术的局限性,以及为什么AES是确定常规Al键合焊盘上F污染的更好工具。在应用过程中,我们不能直接将EDS结果与AES结果进行比较,因为EDS是一种批量分析技术,而AES是表面分析技术。对于表面污染分析,应遵循实践规则:“ EDS清洁不干净”和“螺旋钻清洁”。完全建议我们使用AES分析和监视普通Al键合板上的表面F污染水平。

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