Dept. of Electr. Eng., Arizona State Univ., Tempe, AZ, USA;
Complex permittivity; microwave annealing; silicon wafer dielectric constant; temperature curve;
机译:使用2.45 GHz频率加热修复碳氢化合物污染的土壤:工作功率和土壤质地对土壤温度曲线和污染物去除动力学的影响
机译:针对2.45 GHz LR-WPAN的低复杂度频率偏移不敏感检测
机译:1 MHz至18 GHz频率范围内多孔Al_2O_3-SiC复合材料的复介电常数行为分析
机译:掺杂Si的复杂介电常数及其对2.45GHz频率的加热曲线的影响
机译:在2.45 GHz微波频率下估算硅的复介电常数。
机译:评论:Wi-Fi(2.45 GHz)暴露对细胞凋亡的影响精子参数和睾丸组织形态测定大鼠:时程研究
机译:BATIO 3颗粒形状对GHz频率的0.98mgtiO 3 -0.02batiO3复合粉末复合介电常数的影响