Adv. Microsyst. Packaging Nano-Mech. Res. Lab., Hsinchu, Taiwan;
Accelerated aging test; Forward voltage method; Junction temperature;
机译:使用直接温度测量来确定GaN基LED中的结温和热阻
机译:氮化铝镓(GaN)/ GaN高电子迁移率晶体管传感器,用于呼出气冷凝物中的葡萄糖检测
机译:结温及其变化对GaN基大功率倒装芯片LED性能的影响
机译:用电流负载条件测定氮化镓(GaN)的结基高功率LED的连接温度
机译:射频等离子体辅助分子外延生长氮化镓:通过RHEED-TRAXS测定表面化学计量,氮化镓:铍退火以及活性氮种类,表面极性和过量的镓超压对高温极限的影响。
机译:氮化铝镓(GaN)/ GaN高电子迁移率晶体管传感器用于呼出气冷凝物中的葡萄糖检测
机译:大功率氮化镓LED中p-n结对外壳热阻的诊断技术和设置