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Study of the scandate cathode properties from I-V characteristics

机译:从I-V特性研究the日期阴极特性

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摘要

Scandate cathode is the most promising cathode type which can be utilized in THz devices. There is a wide transition region in the I-V characteristics of scandate cathode. The low slope and dual slope in the I-V characteristics according with Child-Langmuir law will be discussed in this paper.
机译:Scandate阴极是最有前途的阴极类型,可用于THz器件。扫描日期阴极的I-V特性中存在一个较大的过渡区域。本文将讨论根据Child-Langmuir定律的IV特性中的低斜率和双斜率。

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