Science and Technology on Monolithic Integrated Circuits and Modules Laboratory, Nanjing, 210016, CHN;
Calibration; Measurement uncertainty; Microstrip; Power transmission lines; Standards; Transistors; Transmission line measurements; Multi-line TRL calibration; On wafer calibration; THz measurement; invert microstrip; transistor measurement;
机译:Monte Carlo对晶圆多线TRL校准的测量不确定性,包括动态精度
机译:通过反射线(TRL)校准
机译:通过反射线(TRL)数值校准和误差分析以提取电路模型的参数
机译:一个新的晶圆多线通过反射线(TRL)校准标准设计
机译:校准系统设计和SNAP过滤器校准要求的确定
机译:光学显微镜校准工业标准的设计
机译:基于3-D EM仿真的特征阻抗提取的毫米波晶圆上TRL校准
机译:脉冲发生器的设计,结构,性能和校准,以满足规范防御标准59-41,Fs(F)510和Fs(F)457的要求