Dept. of Electrical and Computer Engineering, University of Rochester, NY, 14627, USAc;
ECC; Fault-tolerant; VLSI; cache; process variation; supply voltage variation;
机译:结合了矩形和汉明产品代码的两层错误控制代码,用于缓存错误
机译:ECC-United Cache:在关联缓存记忆中最大限度地提高错误检测/校正码的效率
机译:应对:新兴的STT-MRAM缓存的读/写错误率感知编码技术
机译:两层错误控制代码的变异高速缓存
机译:用于计算机通信的密码模型(代数加密,残留代码,DBMS,错误控制代码,加密复杂性)。
机译:两个最优编码缓存方案的最佳线性误差校正传递方案
机译:结合矩形和汉明产品代码的双层错误控制代码用于缓存错误