Department of Electrical and Computer Engineering, Polytechnic Institute of New York University, Brooklyn, United States of Americac;
emerging memory technologies; fault modeling; memory testing; metal-oxide memristors;
机译:基于忆阻器的内存:潜行路径问题和解决方案
机译:基于交叉开关的非易失性随机访问存储器的潜行测试
机译:测试两端口内存中的地址解码器故障:故障模型,测试,端口限制的后果和测试策略
机译:基于多级忆阻器的存储器的潜行路径测试和故障建模
机译:故障模型和随机存取存储器中耦合故障的测试。
机译:后摩尔内存技术:RRAM CrossBar阵列和解决方案上的潜行路径电流(SPC)现象
机译:基于忆阻器的内存:潜行路径问题和解决方案
机译:随机存取存储器测试:理论与实践。故障建模的收益