首页> 外文会议>2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits >An effective broken scan chain diagnosis flow combining software and hardware solutions for systematic failures
【24h】

An effective broken scan chain diagnosis flow combining software and hardware solutions for systematic failures

机译:结合软件和硬件解决方案的有效故障扫描链诊断流程,可解决系统故障

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摘要

Conventional software scan diagnosis using Electronic Design Automation (EDA) tools and hardware diagnosis using frequency mapping technique, are established methodologies for broken scan chains fault isolation. This work proposes a diagnostic workflow that integrates both methodologies to enhance accuracy and reduce turnaround time for debug. Experimental results are presented to demonstrate the effectiveness of this workflow for systematic fail dies analysis.
机译:建立了使用电子设计自动化(EDA)工具的常规软件扫描诊断和使用频率映射技术的硬件诊断,这些方法可用于断开扫描链故障隔离。这项工作提出了一种诊断工作流程,该工作流程将两种方法结合在一起,以提高准确性并减少调试的周转时间。提出了实验结果,以证明该工作流程对于系统故障模具分析的有效性。

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