Home and Building Technologies, Honeywell Technology Solutions, Bangalore, India;
Microprocessors; Capacitors; Harmonic analysis; Antenna measurements; Standards; Layout; Programming;
机译:抑制高速交替PCB平面中的辐射通孔的短路通孔的建模和优化设计
机译:用于检测变压器绕组故障的基于微处理器的高速继电器的设计,实现和测试
机译:使用1 GHz TEM单元测量一系列微处理器的辐射发射
机译:基于高速微处理器设计的辐射发射案例研究
机译:高性能微处理器的高速I / O接口设计。
机译:辐射衰减工程4.表面等离激元耦合定向发射的实验研究
机译:用于抑制高速交替pCB平面辐射发射的短路过孔的建模和优化设计