State Key Laboratory of Polymer Physics and Chemistry, Changchun Institute of Applied Chemistry, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130022, P.R.China;
University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, P.R.China;
Laboratory of Surface Physics and Chemistry, Guizhou Normal College, Guiyang 550018, P.R.China;
State Key Laboratory of Polymer Physics and Chemistry, Changchun Institute of Applied Chemistry, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130022, P.R.China;
State Key Laboratory of Polymer Physics and Chemistry, Changchun Institute of Applied Chemistry, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130022, P.R.China;
机译:椭偏光谱法研究氧分压,沉积温度和退火对CdS:O薄膜光学响应的影响
机译:椭圆偏振光谱法研究ZnO:Al后退火薄膜的光学性质
机译:光谱椭圆偏光法和透射电镜研究离子注入InGaZnO薄膜的光学和结构性质
机译:用光学显微镜结合原位光谱椭圆形测定薄聚合物膜的溶剂退火过程
机译:光化学在光学光刻中的应用。使用光谱和成像技术表征聚合物薄膜中的化学过程
机译:通过原位光谱椭圆偏振法在金属氧化物薄膜的等离子体增强原子层沉积过程中发现前体-表面相互作用
机译:错误:“用光谱椭圆形测定法研究的无定形和结晶SB掺杂SnO2薄膜的光学性质:光学间隙能量和有效质量”J。苹果。物理。 118,085303(2015)
机译:光谱椭偏法测定有机薄膜的光学性质。