Design Technology Development Department, STARC, 3-17-2, Shin Yokohama, Kohoku-ku, Yokohama, 222-0033, Japan;
test plan grouping; test controllers; test length; partly compacted test plan tables; RTL data paths;
机译:在测试控制器区域约束下缩短RTL数据路径测试长度的测试计划分组方法
机译:使用压缩测试表和压缩测试计划表的RTL数据路径电路的两种测试生成方法
机译:基于强大可测试性的RTL数据路径DFT方法,以减少测试应用时间
机译:在测试控制器区域约束下缩短RTL数据路径测试长度的测试计划分组方法
机译:基于门控信号平均方法的新型接口,可对电力电子应用中的数字控制器进行精确的硬件在环测试。
机译:治疗计划限制以避免头部和颈部放射治疗的Xerostomia:使用前瞻性收集的数据集进行Quantec标准的独立测试
机译:基于符号可测性分析的RTL控制器-数据路径的BIST方案