School of Electrical Computer Eng. Purdue University W. Lafayette, IN 47907, U.S.A.;
机译:降低逻辑电路的测试成本:减少测试数据量和测试应用时间
机译:通过扫描状态的额外移动来减少偏载测试的输入测试数据量
机译:重新配置了扫描林,以降低测试应用程序成本,降低测试数据量和降低测试功耗
机译:通过重新调整测试数据来减少测试数据量
机译:使用测试数据压缩和内置的自检功能来减少片上系统集成电路的测试数据量。
机译:2018年加拿大某省医院的全血细胞计数和电解质板测试和重复测试数据集
机译:降低逻辑电路的测试成本-减少测试数据量和测试应用时间-
机译:XmD-7火控系统预B-58测试的数据减少编程第1卷,共3个功能描述数据减少系统