利用新建外推法装置准确测量天线增益过程中的吸波材料影响评估

摘要

本文首先介绍外推法技术,在此基础上提出一种基于几何光学的吸波材料影响评估方法.该方法可以在数字滤波后有效模拟并引入反射信号,通过应用两次外推技术,得到对增益测量的影响评估结果.在NIM的外推法装置中进行实验验证,结果表明该方法可以有效模拟吸波材料的影响,并给出由吸波材料引入的增益测量不确定度分量.该方法目前已应用到NIM和NPL的外推法测量结果评定中,不仅对于外推法,对于大量在暗室中进行的其他天线测量结果的评估也具有很好的参考价值.