X射线荧光光谱法测定地质样品的主元素含量

摘要

采用玻璃熔片法制样。建立测定地质样品中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、TFe、MnO、K2O、TiO2、Na2O等主成分的x射线荧光光谱分析方法。确定了仪器最佳参数，采用多种类型的系列标样建立“万能工作曲线”，以理论α系数法进行基体效应校正。然后对“万能工作曲线”按类型进行分解，用“万能工作曲线”测出样品初步结果后选择合适的工作曲线进行重新计算。采用熔融法分解试样的方法有效地消除了试样的粒度效应，分析结果与化学法相比，准确度能满足各类型地质样品中主元素的检测要求。