脉冲模式下天线近场测试系统研究

摘要

脉冲模式天线测量技术能够有效解决场地反射和功率耐受等难题,在现代天线测量中具有极大的优越性和发展前景.本文简要介绍了脉冲模式下天线测量的应用环境和测量原理,然后分别以MI公司MI-750和Agilent公司PNA-X两种典型微波接收机为例,详细讨论脉冲模式下天线近场测试系统的框架、系统指标及接收机选件需求等.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号