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基准站任意架设技术的RTK测量精度分析与质量控制

摘要

RTK技术在数字化测图中的应用已经十分普遍.但是,以往基准站需架设在已知点,这在实际工作中给测量人员带来不便.随着计算模型的改进,基准站任意架设技术的问世,为测量工作带来了极大地便利.针对该技术的测量精度以及工作过程中如何对其进行质量控制,从而确保测量结果符合精度要求的问题,对其进行论证,认为在实际工作中,应该避免超短边现象,并且进行点校正时最好使用脚架严格对中整平.

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