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外层非欠蚀短路原因分析及改善

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随着AOI(自动光学检查机)技术的普及,外层图转产生的断、短路在AOI都可拦截,所以通断测试检出的断、短路基本为内层或导通孔的缺陷,但近期通断测试找点时,连续突发批量外层短路,且过程无异常.文章从人、机、物、法、环入手,找出外层短路的突发原因,并实施改善.

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来源
《2017中日电子电路秋季大会暨秋季国际PCB技术/信息论坛》||196-203|共8页
会议地点
作者
ZHAO Yu; 赵宇;
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作者单位

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN41:TN406;
关键词
印制电路板; 外层短路; 自动光学检查机; 通断测试;

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