辉光放电质谱法测定高温合金中痕量元素的质谱干扰校正

摘要

本文系统地研究了辉光放电质谱法(GDMS)测定高温合金中痕量元素时存在的质谱干扰,并详细地给出了各同位素存在的主要质谱干扰及其干扰的程度。根据各元素质谱干扰的实际情况,分别采用不同的方法用于干扰校正，通过如选择不受干扰的同位素、样品基体匹配以及进行多元线性回归扣除的校正方法有效地消除了质谱干扰的影响。三块高温合金样品的测定结果表明经干扰校正后成功地实现了高温合金中痕量元素B,Mg,Ga,As,Ag,In,Sn,Sb,Te,T1,Pb和Bi的测定。