首页> 中文会议>2013年航天可靠性学术交流会 >基于元器件退化和电路仿真的电子系统性能可靠性评估方法

基于元器件退化和电路仿真的电子系统性能可靠性评估方法

摘要

高可靠、长寿命电子产品很难通过大量的失效数据进行可靠性评估和验证,为此,现代工程实践中发展了性能可靠性方法.以往性能可靠性的研究主要针对元器件或系统整体单独开展,缺乏将两者结合的研究方法,因此,元器件厂家和用户的大量性能退化数据无法在系统早期设计中得到充分应用.为此,本文提出了基于元器件性能退化和电路仿真相结合的电子产品性能可靠性评估方法.首先根据电子系统原理建立电路仿真模型,再通过灵敏度分析确定导致系统性能参数变化的敏感元器件;之后,根据退化数据建立敏感元器件的性能参数退化模型,利用Monte-Carlo仿真获取系统性能参数的退化数据,进而实现性能可靠性评估.最后,以某型装备上的恒流电源为例具体说明实现过程,从而验证该方法的有效性.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号