加速寿命试验中基于性能退化数据的自动化处理方法

摘要

如今，航天航空、军事等领域的电子元器件与IC一般都具有极高可靠性，在包括加速寿命试验方法在内的寿命试验中通常只有少量失效或者没有失效出现。电子元器件与IC的失效机理最终可以追溯到潜在性能退化过程，因此从某种意义上讲可以认为性能退化最终导致了产品失效(或故障)的产生。传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据，对于半导体器件这类高可靠长寿命产品，很难通过寿命试验和加速寿命试验获得失效寿命时间，这种情况下产品的性能退化数据(degradation data)可提供可靠性评估的重要信息。本文首先介绍了基于退化轨迹的可靠性评估的常用方法,然后对具有退化失效机理的高可靠长寿命产品进行可靠性评估,最后介绍了依据该评估方法自行开发的可视界面和通用性强的寿命评估软件.