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偏振X射线能量色散荧光光谱测量萤石矿归一化校正法

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本文提出直接粉末压片法,并忽略CaCO3对测量CaF2影响,用偏振X-射线能量色散荧光光谱测量萤石矿中CaF2、SiO2、Fe2O3、K2O、S和P等组分.根据分析组分加和∑C值进行归一化校正计算,得出同化学分析十分接近结果.对CaCO3、S含量比较高的萤石矿未知样分析,采用文献推荐C-S联合测定法进行修正.对有关归一化校正、计算的条件限制作了说明.

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来源
《2012国际冶金及材料分析测试学术报告会（CCATM2012）》|2012年|700-704|共5页
会议地点北京
作者
BAI Fu-quan; 白福全; DING Hui; 丁慧; WANG Qiao-ling; 王巧玲; WANG Zai-tian; 王再田;
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作者单位

中国金属学会;

中国机械工程学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类光谱分析、极谱分析;
关键词
萤石矿; 成分分析; 归一化校正; 偏振X射线能量色散荧光光谱法;

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