三模冗余技术防护结构的SEU率分析方法

摘要

本文介绍了一种三模冗余技术防护结构，其单粒子事件率(R)-即系统级错误率的分析方法。采用试验测量得到本征事件率(r)，结合理论计算得到单粒子事件率(R)。采用两种方法对得到的结果进行简化，并针对一些问题进行了讨论。虽然仅通过试验的方法就可以得到R/r的关系，但是采用理论计算的方法有其独特的意义。该方法对于SRAM型FPGA为代表的复杂器件的单粒子翻转的防护设计和系统性能评估具有重要的意义。