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10/100 Base-T以太网物理层的设计及测试

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本文介绍了10/100Base-T以太网物理层系统芯片的设计和测试方法,给出了10/100Base-T以太网物理层芯片的流片结果.测试表明,整个系统的功能达到了设计要求.

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来源
《第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会》|2005年|165-168|共4页
会议地点北京
作者
吴亮; 任俊彦; 郑国祥;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
以太网物理层; 系统芯片; 测试;

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