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王锐; 杜高明; 李灏; 朱晓春;
中国计算机学会;
中国仪器仪表学会;
控制器/数据流; 验证方案; MCU核; 节拍; 测试芯片;
机译:降低芯片测试成本:设计用于可测试性的VLSI电路是降低确保高芯片可靠性的相对成本的最有效方法
机译:使用差分光信号传输的具有540个元素的收发器阵列的光电VLSI芯片的设计和测试
机译:摘要摘要。 1992年IEEE VLSI测试研讨会。十周年。设计,测试和应用:ASIC和系统上芯片(CAT。No.92th0437-4)
机译:测试高速VLSI芯片中的信号完整性。
机译:使用微控制器和传感器构建廉价的合作芯片
机译:一种生产和测试由Genesil Silicon Compiler设计的VLSI芯片的方法,该芯片结合了可测性设计
机译:VLsI(超大规模集成)过程问题诊断和产量预测:综合测试结构和测试芯片设计方法
机译:集成系统芯片电路的设计验证方法,包括使用完整系统芯片的仿真测试库验证整个设计并执行应用程序
机译:VLSI芯片数据的验证方法
机译:VLSI设计验证方法及装置
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