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IEEE VLSI Test Symposium
IEEE VLSI Test Symposium
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1.
Effective concurrent test for a parallel-input multiplier using modulo 3
机译:
使用Modulo 3的并行输入乘法器的有效并发测试
作者:
Debany W.H.
;
Macera A.R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
2.
On the effectiveness of simultaneous self-test techniques
机译:
关于同时自检技术的有效性
作者:
Johnson P.A.
;
Ferguson F.J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
3.
A mixed signal tester solution for: standards traceable AC calibration of analog modules
机译:
混合信号测试仪解决方案:标准可追踪模拟模块的AC校准
作者:
Abate M.F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
4.
Built-in current self-testing scheme (BICST) for CMOS logic circuits
机译:
CMOS逻辑电路的内置电流自测方案(BICST)
作者:
Qiao Tong
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
5.
Built-in self-diagnostic by space-time compression of test responses
机译:
通过测试响应的时空压缩内置自诊断
作者:
Karpovsky M.G.
;
Chaudhry S.M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
6.
A design for testability scheme to reduce test application time in full scan
机译:
用于减少全扫描测试应用时间的可测试性方案的设计
作者:
Pradhan D.K.
;
Saxena J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
7.
A simulation-based approach to test pattern generation for synchronous sequential circuits
机译:
基于模拟的同步顺序电路测试模式生成方法
作者:
Camurati P.
;
Corno F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
8.
On test generation for path delay faults in ASICs
机译:
关于ASIC路径延迟故障的试验
作者:
Varma P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
9.
Recent advances in sequential test generation
机译:
连续试验生成的最新进展
作者:
Kwang-Ting Cheng
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
10.
Design of low cost ROM based test generators
机译:
基于低成本ROM的测试发生器设计
作者:
Edirisooriya G.
;
Robinson J.P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
11.
HLSIM-a new hierarchical logic simulator in APL
机译:
HLSIM-APL中的一个新的分层逻辑模拟器
作者:
Zein D.A.
;
Engel O.P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
12.
BIST linear generator based on complemented outputs
机译:
BIST线性发生器基于补充输出
作者:
Lew Yan Voon L.F.C.
;
Dufaza C.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
13.
A totally self-checking checker for a parallel unordered coding scheme
机译:
一个完全自检检查,用于并行无序编码方案
作者:
Burns S.W.
;
Jha N.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
14.
On-line testing of switched-capacitor filters
机译:
开关电容滤波器的在线测试
作者:
Huertas J.L.
;
Vazquez D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
15.
A defect-tolerant design for mask ROMs
机译:
用于掩模ROM的缺陷宽容设计
作者:
Iwasaki K.
;
Fujiwara T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
16.
An investigation of circuit partitioning for parallel test generation
机译:
并行试验生成电路分区的研究
作者:
Bollinger S.W.
;
Midkiff S.F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
17.
On-chip current sensing circuit for CMOS VLSI
机译:
CMOS VLSI的片上电流检测电路
作者:
Tung-Li Shen
;
Daly J.C.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
18.
Recent advances in logic synthesis with testability
机译:
逻辑合成的最新进展,可测试性
作者:
Rajski J.
;
Vasudevamurthy J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
19.
Built-in self-test design for large embedded PLAs
机译:
大型嵌入式PLA的内置自检设计
作者:
Pierzynska A.
;
Pilarski S.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
20.
Analysis of the die test optimization algorithm for negative binomial yield statistics
机译:
负二型产量统计模具试验优化算法分析
作者:
Krishna C.M.
;
Singh A.D.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
21.
Hierarchical fault modeling for analog and mixed-signal circuits
机译:
模拟和混合信号电路的分层故障建模
作者:
Nagi N.
;
Abraham J.A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
22.
Partner SRLs for improved shift register diagnostics
机译:
合作伙伴SRL用于改进的移位寄存器诊断
作者:
Schafer J.L.
;
Policastri F.A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
23.
Coset error detection in BIST design
机译:
BIST设计中的COSET错误检测
作者:
Nagvajara P.
;
Karpovsky M.G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
24.
Probe point insertion for at-speed test
机译:
探头点插入用于速度测试
作者:
Rudnick E.M.
;
Chickermane V.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
25.
Zero cost testing of check bits in RAMs with on-chip ECC
机译:
用片上ECC的RAM中检查位的零成本测试
作者:
Ramanathan P.
;
Saluja K.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
26.
Developments in delay testing
机译:
延迟测试的发展
作者:
Savir J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
27.
Simulation of physical faults in VLSI circuits
机译:
VLSI电路中物理故障的仿真
作者:
Hajj I.N.
;
Lee T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
28.
A new tool for random testability evaluation using simulation and formal proof
机译:
使用模拟和正式证明的随机可测试性评估的新工具
作者:
Simeu E.
;
Puissochet A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
29.
On test generation for combinational circuits consisting of AND and EXOR gates
机译:
关于由和辐射门组合的组合电路的试验
作者:
Toida S.
;
Rao N.S.V.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
30.
The split boundary scan register technique for testing board interconnects
机译:
用于测试板互连的分流边界扫描寄存器技术
作者:
Haider N.S.
;
Kanopoulos N.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
31.
Testability properties of acyclic structures and applications to partial scan design
机译:
非循环结构和应用在部分扫描设计中的可测试性能
作者:
Gupta R.
;
Breuer M.A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
32.
A new technique for totally self-checking CMOS circuit design for stuck-on and stuck-off faults
机译:
一种全新的自我检查CMOS电路设计的新技术,用于卡住和卡住故障
作者:
Cheema M.S.
;
Lala P.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
33.
Data driven neural-based measurement discrimination for IC parametric faults diagnosis
机译:
数据驱动的IC参数故障诊断的神经基测量辨别
作者:
Wu A.
;
Meador J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
34.
Redundancy removal and simplification of combinational circuits
机译:
组合电路的冗余拆卸和简化
作者:
Menon P.R.
;
Ahuja H.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
35.
Multiple redundancy removal during test generation and synthesis
机译:
试验和合成期间的多次冗余去除
作者:
Wu D.M.
;
Swanson R.M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
36.
Accelerated path delay fault simulation
机译:
加速路径延迟故障模拟
作者:
Yuejian Wu
;
Ivanov A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
37.
Behavior of faulty single BJT BiCMOS logic gates
机译:
故障单一BJT BICMOS逻辑门的行为
作者:
Menon S.M.
;
Malaiya Y.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
38.
A methodology for the insertion of a hierarchical and boundary-scan compatible self test
机译:
插入分层和边界扫描兼容自检的方法
作者:
Haberl O.F.
;
Kropf T.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
39.
Scan testing of latch arrays
机译:
扫描锁定的扫描测试
作者:
Hui M.M.Y.
;
Nadeau-Dostie B.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
40.
Design of reduced testing for VLSI circuits based on linear code theory
机译:
基于线性码理论的VLSI电路降低测试设计
作者:
Pimenta T.C.
;
Mokari M.E.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
41.
A concurrent checking scheme for single and multibit errors in logic circuits
机译:
逻辑电路中单个和多点错误的并发检查方案
作者:
Kolla B.
;
Lala P.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
42.
Delay fault testing of iterative arithmetic arrays
机译:
迭代算术阵列的延迟故障测试
作者:
Roy R.K.
;
Nagi N.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
43.
On fault deletion problem in concurrent fault simulation for synchronous sequential circuits
机译:
同步顺序电路并发故障仿真中的故障删除问题
作者:
Kim K.
;
Sajuja K.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
44.
Test pattern generation system for delay faults using a high speed simulation processor 'SP'
机译:
使用高速仿真处理器“SP”的延迟故障测试模式生成系统
作者:
Izuta Y.
;
Hirose F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
45.
Testing and design for testability of BiCMOS logic circuits
机译:
BICMOS逻辑电路可测试性的测试和设计
作者:
Salama A.E.
;
Elmasry M.I.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
46.
The roles of controllability and observability in design for test
机译:
控制设计中可控性和可观测性的作用
作者:
Butler K.M.
;
Kapur R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
47.
Recent advances in BIST
机译:
最近的进展是
作者:
Gupta S.K.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
48.
Detection of multiple faults in CMOS circuits using a behavioral approach
机译:
使用行为方法检测CMOS电路中的多个故障
作者:
Shen Y.-N.
;
Lombardi F.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
49.
Digest of Papers. 1992 IEEE VLSI Test Symposium. 10th Anniversary. Design, Test and Application: ASICs and Systems-on-a-Chip (Cat. No.92TH0437-4)
机译:
摘要摘要。 1992年IEEE VLSI测试研讨会。十周年。设计,测试和应用:ASIC和系统上芯片(CAT。No.92th0437-4)
作者:
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
50.
Empirical bounds on fault coverage loss due to LFSR aliasing
机译:
LFSR别名引起的故障覆盖损失的经验范围
作者:
Debany W.H.
;
Gorniak M.J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
51.
Robust switch-level test generation
机译:
强大的开关级测试生成
作者:
Mathew B.
;
Saab D.G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
52.
Checksum-based concurrent error detection in linear analog systems with second and higher order stages
机译:
具有第二和高阶阶段的线性模拟系统中基于校验和的并发错误检测
作者:
Chatterjee A.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
53.
Self-testing and self-checking combinational circuits with weakly independent outputs
机译:
具有弱独立输出的自检和自检组合电路
作者:
Sogomonjan E.S.
;
Goessel M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
54.
A testable static RAM structure for efficient coverage of pattern sensitive faults
机译:
一种可测试的静态RAM结构,用于高效覆盖模式敏感故障
作者:
Shyang-Tai Su
;
Makki R.Z.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
55.
Optimum redundancy design for new-generation EPROMs based on yield analysis of previous generation
机译:
新一代EPROM的最佳冗余设计基于前一代的产量分析
作者:
Imamiya K.
;
Miyamoto J.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
56.
Algorithms for the design verification of bipolar array chips
机译:
双极阵列芯片设计验证的算法
作者:
Zein D.A.
;
Engel O.P.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
57.
Generalization of independent faults for transition faults
机译:
过渡故障独立故障的概括
作者:
Pomeranz I.
;
Reddy S.M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
58.
Improving the theory of truth table verification of iterative logic arrays
机译:
改善迭代逻辑阵列的真理表验证理论
作者:
Nicolaidis M.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
59.
A functional BIST approach for FIR digital filters
机译:
功能是FIR数字滤波器的方法
作者:
Counil C.
;
Cambon G.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
60.
Techniques to increase sequential ATPG performance
机译:
提高顺序ATPG性能的技术
作者:
Macii E.
;
Meo A.R.
;
Institute of Electric and Electronic Engineer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
1992年
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