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利用干涉图样确定晶体光轴取向

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本文理论分析了线偏光通过晶体时的双折射现象,由于等色线是围绕光轴的闭合曲线,故观察干涉条纹便可确定晶体是单轴或双轴并且确定光轴取向.

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来源
《2002年全国光电技术学术交流会》|2002年|552-554|共3页
会议地点成都
作者
张降元; 姚建铨;
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作者单位

中国宇航学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类晶体的光学性质;
关键词
线偏光; 晶体双折射; 等色线; 晶体光轴;

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