脉冲硬X射线测量技术研究

摘要

滤波荧光法是脉冲硬X射线的测量方法之一。它通过对透过滤波片照射在荧光体上而产生的X荧光的测量，来诊断脉冲X光源的能谱和时间性。研究人员经过精心的选择滤波片和荧光全的材料和厚度尺寸，选用廉价的剂量片作探测器组成了能谱测量系统。由于剂量片是非时间性测量，在测量系统中又采取了散射法，用PIN探测器对光源进行时间性测量，从而完成对脉冲硬X射线光源的诊断。对于能量大大高于元素材料的吸收限的硬X射线，采用了超过滤波荧光法来加以测量。该测试系统具有制作费用低、体积小、抗电磁干扰等特点。