紫外辐照对聚醚酰亚胺薄膜介电性能的影响

摘要

以聚醚酰亚胺(PEI)薄膜为对象,研究了不同紫外辐照剂量对PEI 薄膜材料微观形貌、分子结构的影响,以及PEI薄膜的体积电阻率、表面电阻率、介电常数、直流体击穿等介电性能的影响.研究发现,紫外辐照后PEI分子链中的C=O基团增加,使得分子极性增强,导致薄膜的介电常数、介电损耗增大.辐照后PEI薄膜的表面电阻率随辐照时间的增加而下降,体积电阻率变化较小.随辐照剂量的增加,PEI薄膜表面微降解反应显著增加,表面将产生微孔和微细裂纹,直流击穿强度随剂量的增加呈先增加后降低的趋势,一定辐照剂量可使薄膜击穿场强较原薄膜提高20％以上,研究结果对PEI薄膜材料的应用及改性研究有重要价值.