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ESD测试芯片的设计

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本文通过设计ESD测试芯片,验证四种ESD防护技术及其组合.芯片的整体构架采用锁相环加状态机的测试结构,最后流片采用DIP20封装.

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来源
《全国抗恶劣环境计算机第二十三届学术年会》|2013年|230-237|共8页
会议地点浙江丽水
作者
曹宏涛; 李振涛; 邢座程;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类设计;
关键词
集成电路; 静电放电测试芯片; 结构设计; 安全防护;
入库时间 2022-08-17 10:42:16

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