氩离子抛光-SEM图像分析技术在致密储层微观孔隙结构研究中应用

摘要

对于致密储层而言,纳米级孔是连通储集空间的主体,在利用传统储层结构研究方法的同时,需要借鉴材料科学、物理化学及分析化学等学科多项测试方法,在孔隙类型、大小、形态、分布、空间连通性等方面开展实验方法的研究与探索,以提高致密储层微观孔隙结构表征的精度和准确性为目的,为储集性能评价提供依据.通过对氩离子抛光-SEM技术实现致密储层孔隙结构定性分析和定量表征的结合，利用氩离子抛光一扫描电镜技术定性研究致密储层孔隙类型和形态；利用Object area定量分析致密样品孔隙直径大小、面孔率等。