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苏旭军; 黄俊; 张纪才; 张锦平; 徐科;
中国电子学会;
中国有色金属学会;
氮化铝; 氢化物气相外延生长; 微结构; 缺陷表征; 透射电子显微术;
机译:一种新型的半导体非接触式表征方法:扫描电子显微镜中的表面电子束感应电压
机译:人类供体肺的肺泡II型肺细胞的超微结构病理。电子显微镜,立体学和显微分析。
机译:混合电子显微镜:结合X射线晶体学和电子显微结构数据的新方法
机译:扫描电子显微镜中的半导体缺陷表征
机译:III-V型化合物半导体材料表征的各种光电子器件的微结构和纳米结构的分析透射电子显微镜和高分辨率电子显微镜。
机译:扫描电子显微镜对半导体材料中扩展缺陷的全面表征
机译:通过光声光谱学研究半导体缺陷状态和缺陷产生以及通过电流注入声学方法研究半导体激光器的非发射过程。(VI。半导体的晶格弛豫,强耦合电子-晶格系统的动力学性质,科研补助金。 (会议报告)
机译:辐照金属中小缺陷团簇的电子显微镜观察。确定缺陷类型的对比理论和实验方法
机译:电子显微结构体的随机缺陷测试
机译:用于图案化基板的缺陷检测方法,旨在检测使用电子显微镜获得的半导体晶片的电压对比缺陷
机译:扫描型电子显微镜中晶体样品的3D缺陷表征
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