硫化钠对含氯薄层液膜下锡电化学迁移行为的影响

摘要

在含氯薄液膜环境下,首次研究了Na2S对锡电化学迁移过程中枝晶生长的抑制行为及机制.结合原位光学显微观察和电化学监测,以及X射线衍射(XRD)分析手段对Na2S的作用机理进行了研究.同时,对不同浓度Na2S的抑制效果进行观察.结果表明,不同浓度Na2S对薄液膜下锡电化学迁移的抑制效果不同,当加入足够浓度Na2S时,可以有效抑制含氯薄液膜下锡的电化学迁移行为.