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Gan Zuodong; 淦作冬; Li Gongpeng; 李恭鹏; Yang Zhichang; 杨志昌;
中国电源学会;
电子产品; 静电放电; 容性耦合; 传输线; 干扰测试;
机译:使用PEEC方法高效计算静电放电(ESD)引起的电感和电容耦合
机译:进场物体的静电放电(ESD)的通用模型:多次放电和进场速度的分析(转载于《电气过应力/静电放电研讨会论文集》,2000年)
机译:水平耦合平面上的场被直接ESD激发并放电到垂直耦合平面
机译:静电放电经过静电放电(ESD)的亚10nm直径的表征和故障分析,栅极 - 全纳米线场效应晶体管(ESD)
机译:系统和IC级别的静电放电(ESD)和电快速瞬变(EFT)免疫力分析以及相关的耦合机制。
机译:直接O2耦合瓦克氧化的实验和计算研究:铜盐的缺乏水的依赖
机译:轨道基静电放电(ESD)保护电路寄生双极晶体管的研究
机译:EsD(静电放电)产生的Emp(电磁脉冲)与电子设备的耦合。
机译:具有静电共放电线的直接电源对地ESD保护
机译:绝缘体上的硅主体和双栅极耦合二极管,用于静电放电(ESD)应用
机译:绝缘体上的硅体耦合栅极二极管,用于静电放电(ESD)和模拟应用
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