P型单晶硅组件衰减解决方案白皮书

摘要

解析了晶硅组件衰减机理，提出了LIR(光致再生)技术，是用高光强高温加速此过程短时间内修复BO引起的光衰。且后续光照稳定不再有BO衰减，提出使用LIR技术后，乐叶生产线抽测的PERC组件光衰数据，光衰标准:户外，辐照度仪计辐照度。