多层陶瓷电容器贮存寿命评价方法研究

摘要

该文通过自然贮存试验、潮热试验和非饱和压力蒸煮试验对多层陶瓷电容器的贮存寿命进行了评价，结果表明，产品寿命服从对数正态分布，其贮存寿命预测模型为ｔ〈，０．５〉＝Ａｅｘｐ（ａ２／Ｔ＋ａｃ／ＲＨ），预测贮存寿命与自然贮存寿命对比，二者符合得较好。