首页> 中文会议>第十届全国高技术陶瓷学术年会 >簿片状半导瓷可电离缺陷的扩散系数与样品电导率的关系

簿片状半导瓷可电离缺陷的扩散系数与样品电导率的关系

摘要

该文重新考察了薄片状半导瓷样品在气氛突变时与之相应的可电离缺陷向样品内扩散的边界条件和初始条件,在此基础上推导出扩散系数与电导率的关系,所得的结果与文献报导的实验结果相一致。

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