微粒碰撞噪声检测在密封电磁继电器中应用的探讨

摘要

PIND是元件多余物检测的一个极其重要的方法。在检测密封继电器多余物中起到了重要作用，但这决不是控制元件多余物的全部。元件多余物控制应当立足于元件生产线的洁净控制，要强化元件封壳前的镜检。研究人员期望内部微粒检查（镜检）措施的实施将大大促进生产厂质量控制水平、质量保证能力的极大提高，在此基础上再配之以更加科学的PIND试验方法，完全控制住元件内部多余物的目的一定能够达到。