晶体生长过程中浓度边界层研究

摘要

在水溶液晶体生长的浓度边界层实验研究中，我们用Ｍａｃｈ－Ｚｅｈｎｄｅｒ干涉法实时观察ＮａＣｌＯ＜，３＞，α－ＬｉＩＯ＜，３＞晶体生长过程；并将新研制的条纹载波技术引入这一过程，使得干涉图像能自动处理，观察范围能深入到紧邻固／液界面的微区；通过增加测量点等途径，条纹载波法可有效提高测量精度。