ZnO压敏电阻器吸潮机理的研究

摘要

该文在对ZnO压敏电阻器吸潮现象的研究中发现：传统的吸潮现象生成机理无法解释电流脉冲击后ZnO压敏电阻器耐吸潮性能大为降低这一现象。因此该文提出吸潮现象的产生并不主要取决于ZnO压敏瓷体表面是显气孔率，而是主要取决于ZnO压敏瓷体内部微观结构的完整性，并针对吸潮粉体和吸潮瓷片提出了处理方案。