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TS9000MX VLSI测试系统计量检定研究

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该文是ITS9000MX VLSI测试系统的计量检定研究报告，描述了ITS9000MX计算检定的基本思想、原理和关键技术。

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来源
《第九届中国集成电路测试学术年会》|1999年|158-160|共3页
会议地点北京
作者
沈森祖; 石坚;
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作者单位

中国航空学会;

中国计量测试学会;

中国电子学会;

中国空气动力学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路;较量仪器、电桥;
关键词
标准仪器; 计量; 检定; 校准; 测试系统;

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