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基于扫描的内建自测试中的测试立方的覆盖概率分析

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摘要

在介绍测试生成结构的基础上该文分析了基于扫描的内建自测试中的测试立方的覆盖概率问题。并以ＬＦＳＲ作为测试向量生成器分析了ＬＦＳＲ的阶数ｋ与扫描链长度ｍ之间的关系。从而确定了可实现最小硬件开销的最小ＬＦＳＲ阶数ｋ〈，ｍｉｎ〉

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来源
《第八届全国容错计算学术会议》|1999年|223-226|共4页
会议地点武汉
作者
李兆麟; 毛志刚; 叶以正;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类调整、测试、校验;
关键词
扫描; 内键自测试; 测试立方; LFSR;

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