一个使用压缩测试向量的BIST方案

摘要

本文提出了一个基于LFSR-ROM的BIST方案,它利用ATPG产生测试向量过程中剩余的随意位,压缩存放测试向量的ROM.文章介绍了带随意位测试向量压缩的主要途径,TPG设计思想,以及实验结果.实验表明,本方案可以成倍的压缩ROM的硬件开销.

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