首页> 中文会议>第一届全国纳米技术与应用学术会议 >纳米硅薄膜在场发射传感器件中纳米态结构潜力分析

纳米硅薄膜在场发射传感器件中纳米态结构潜力分析

摘要

纳米技术的主要内容其实是为揭示物质的潜在信息和结构潜力。所以,在研制纳米硅薄膜的基础上,把这种新型薄膜应用于场致电子发射传感器件中,是一次有益的尝试。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号