基于动态重构技术的FPGA电路容错性能评估系统

摘要

空间辐射环境中的单粒子效应作用于SRAM结构的FPGA会产生单粒子翻转.单粒子翻转会极大的影响空间电子设备的可靠性.为解决这一问题,研究人员设计了三模冗余、纠错码编码加固等多种电路加固技术.但是,如何定量的衡量加固技术对系统可靠性的提升是航天系统设计和方案制定者们特别需要考虑的.针对空间探测中的上述需求,本文设计实现了基于动态重构技术的FPGA容错性能评估系统,该系统通过模拟单粒子效应对FPGA电路系统的影响,能够定量的对系统的容错性能进行评估.另外,本文还以RS编码器的作为待测目标系统,对该评估系统进行功能验证,测试结果表明该平台功能正确,可应用于实际任务中.