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慢正电子技术在表面及薄膜科学中的应用

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摘要

慢正电子束流技术通过测量不同深度正电子湮没的γ光子的能谱或寿命,可以得到不同深度的微结构的特征及分布,是测量固体中缺陷类型及浓度、相变等十分有效的方法.本文在简单介绍慢正电子技术的基础上,通过分析一些典型的研究工作,就慢正电子技术在表面科学及薄膜材料中的应用研究工作进行了简单综述.

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来源
《第三届全国磁性薄膜与纳米磁学学术会议》|2001年|65|共1页
会议地点兰州
作者
王宝义;
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作者单位

中国物理学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类薄膜技术;
关键词
慢正电子技术; 薄膜材料; 薄膜科学;

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