应用慢正电子湮灭分析陶瓷表面的辐照损伤

摘要

正电子湮灭技术(PAT)已被广泛用于探测固体内部的缺陷情况。最近又发展起来一种慢正电子湮灭装置,它可有效地分析固体近表面区域的缺陷分布,成为对一些传统表面检测手段如背散射技术、光电子能谱等的重要补充。本文简要地介绍了这一新方法,并利用它对离子注入陶瓷表面的辐照损伤进行了研究。