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射线检验缺陷深度定位新方法

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本文作者提出了一种新的立体透照计算方法,用于确定射线检验缺陷在厚度方向的位置.

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来源
《2001全国射线检测技术及加速器检测设备和应用技术交流会》|2001年|193-194|共2页
会议地点郑州
作者
卢长勋;
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作者单位

中国核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TG115.281;
关键词
射线检测; 缺陷深度; 定位方法;

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